电子元器件低温试验
- 型号:LDX-K3050
- 输出电压:0-30V 输出电流:0-50A
- 来源:安博电竞官网
- 发布时间:2024-04-19 07:50:46
- 1、GB/T 2423.1-2008:本低温试验的目的用来确定元件、设备或其他在低温度的环境下使
1、GB/T 2423.1-2008:本低温试验的目的用来确定元件、设备或其他在低温度的环境下使用、运输或贮存的能力。本低温试验不能用来评价试验样品耐气温变化的能力和在温度变化环境下的运行能力。
2、GJB150.4-86:确定测试设备在低温条件下贮存和工作的适应性。
3、GB150.4A-2009:本试验的目的是评价贮存、工作和拆装操作期间,低温条件对装备的完整性和性能的影响。
总体来说,进行低温试验的目的是为了确定产品在低温条件下贮存或使用的适应性。所谓低温条件下的适应性是指产品在恒定的低温条件下贮存或使用时,能保持完好,不受损坏并能正常工作的能力。
低温几乎对所有的机体材料都有不利的影响。对暴露于低温度的环境的装备,由于低温会改变其组成材料的物理特性,因此可能会对其工作性能造成暂时或长久性的损害。所以,只要装备暴露于低于标准大气条件的温度下,就要考虑做低温试验。考虑以下典型低温度的环境效应,有助于确定低温试验是否适用于受试产品:
2、在对温度瞬变的响应中,不一样的材料产生不同程度的收缩,以及不同零部件的膨胀率不同,引起零部件相互咬死;
金属低温冷脆,表现为屈服强度和极限拉伸强度更高,但耐冲击(或碰撞)韧性降低很多,有些甚至粉化。脆性转变温度与金属的成分、冶炼结晶和应力集中有关,奥氏体不锈钢、铝、铜、镍、铅、银、金和铂等金属无明显的脆化温度,大多数金属结构钢(含铌、钽、钒、铬)表现出明显的韧性一脆性的转变,钛、钴、锰、铋、钴、锌和镉与结构钢具有类似的特性,但高纯度的钛合金低温下强度增强,而延展性无明显的降低。
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元件和电小型的机器、仪器的组成部分,其本身常由若干零件构成,可以在同种类型的产品中通用;常指电器、无线电、仪表等工业的某些零件,如电容、晶体管、游丝、发条等子
介绍 /
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